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ISO/IEC 14443 是描述 ISO/IEC 7810 中定义的身份证参数以及此类卡在国际交换中的使用的一系列国际标准之一。 ISO/IEC 14443 的这一部分描述了感应卡的物理特性。 ISO/IEC 14443 的这一部分并不排除在卡上纳入其他标准技术#xff0c;例如资料性附录 A 中引用的技术。非…介绍
ISO/IEC 14443 是描述 ISO/IEC 7810 中定义的身份证参数以及此类卡在国际交换中的使用的一系列国际标准之一。 ISO/IEC 14443 的这一部分描述了感应卡的物理特性。 ISO/IEC 14443 的这一部分并不排除在卡上纳入其他标准技术例如资料性附录 A 中引用的技术。非接触式卡标准涵盖 ISO/IEC 10536紧耦合卡中体现的各种类型。 、ISO/IEC 14443邻近卡、ISO/IEC 15693邻近卡。 这些分别用于在距离相关联的耦合装置非常近、附近和较远的情况下操作。 ISO/IEC 14443 旨在允许在存在符合 ISO/IEC 10536 和 ISO/IEC 15693 标准的其他非接触式卡的情况下操作感应卡。 识别卡 — 非接触式集成电路卡 — 感应卡 — 第 1 部分物理特性
1 范围
ISO/IEC 14443 的这一部分规定了感应卡 (PICC) 的物理特性。 它适用于在耦合设备附近操作的卡类型ID-1的识别卡。 ISO/IEC 14443 的本部分应与 ISO/IEC 14443 的后续部分结合使用。
2 规范性引用文件
ISO/IEC 7810身份证 - 物理特性。 ISO/IEC 10373识别卡 - 测试方法。 IEC 61000-4-2电磁兼容性 (EMC) - 第 4 部分测试和测量技术 - 第 2 部分静电放电抗扰度测试。 3 术语和定义 就ISO/IEC 14443 本部分而言适用以下定义。
3.1
集成电路 (IC)
设计用于执行处理和/或存储功能的电子元件。
3.2
非接触式
涉及在不使用电流元件的情况下实现与卡的信号交换并向卡供电即从外部接口设备到卡内包含的集成电路不存在欧姆路径。
3.3
非接触式集成电路卡
卡类型ID-1如ISO/IEC 7810中所规定的卡其中已放置集成电路并且其中以非接触方式完成与此类集成电路的通信。 下列规范性文件包含的条款通过本文的引用构成了 ISO/IEC 14443 本部分的条款。对于注明日期的引用任何这些出版物的后续修订或修订均不适用。 然而鼓励基于 ISO/IEC 14443 这部分的协议各方研究应用下述规范性文件最新版本的可能性。 凡是不注日期的引用文件其最新版本适用。 ISO 和 IEC 成员保存当前有效的国际标准的登记册。 ISO/IEC FDIS 14443-1:2000(E) 2 © ISO/IEC 2000 – 保留所有权利
3.4
感应卡PICC
卡类型ID-1的卡其中已经放置了集成电路和耦合装置并且其中通过耦合装置附近的感应耦合来完成与这样的集成电路的通信。
3.5
皮辛耦合装置PCD
使用电感耦合为 PICC 供电并控制与 PICC 数据交换的读写器设备。 4 物理特性
4.1 概述
PICC 应具有符合 ISO/IEC 7810 中规定的卡类型 ID-1 要求的物理特性。
4.2 尺寸
PICC 的标称尺寸应与 ISO/IEC 7810 中规定的卡类型 ID-1 相同。
4.3 附加特性
4.3.1 紫外光
ISO/IEC 14443 的这一部分不包括保护 PICC 免受高于海平面普通日光强度的紫外线影响的要求。 如果需要更好的保护卡制造商有责任提供保护并说明紫外线的耐受水平。
4.3.2 X 射线
PICC 的任一面暴露于中等能量 X 辐射能量范围为 70 keV 至 140 keV每年累积剂量为 0.1 Gy后应继续按预期运行。 注这大约相当于人类每年可能接触的最大可接受剂量的两倍。
4.3.3 动态弯曲应力
根据 ISO/IEC 10373 中描述的测试方法进行测试后PICC 应继续按预期运行其中短卡轴和长卡轴的最大偏转为 hwA 20 mm 和 hwB 10 mm。 4.3.4 动态扭转应力
根据 ISO/IEC 10373 中描述的测试方法进行测试后PICC 应继续按预期运行其中最大旋转角度为 α 15°。
4.3.5 交变磁场
在以任何方向暴露于表 1 中给出的平均水平的磁场后PICC 应继续按预期工作。平均时间为 6 分钟磁场的最大均方根水平限制为 33 倍。 平均水平。
此外PICC 在连续暴露于 13.56 MHz 平均水平 10 A/m rms 的磁场后应继续按预期运行。 平均时间为 30 秒磁场的最大水平限制为 12 A/m rms。
4.3.6 交变电场
在以任何方向暴露于表 2 中给出的平均水平的电场后PICC 应继续按预期工作。平均时间为 6 分钟电场的最大均方根水平限制为 33 倍。 平均水平。
4.3.7 静电
按照ISO/IEC 10373参见IEC 61000-4-2:1995中描述的测试方法进行测试后PICC应继续按预期运行其中测试电压为6 kV。
4.3.8 静磁场
PICC 在暴露于 640 kA/m 静态磁场后应继续按预期运行。 警告 — 磁条的数据内容可能会被此类磁场擦除。
4.3.9 工作温度
PICC 应在 0 °C 至 50 °C 的环境温度范围内按预期运行
标准兼容性
ISO/IEC 14443的这一部分并不排除PICC上添加其他现有卡标准例如 列出如下 ISO/IEC 7811身份证 - 记录技术。 ISO/IEC 7812身份证 - 发行人的身份识别。 ISO/IEC 7813身份证 - 金融交易卡。 ISO/IEC 7816识别卡 - 带触点的集成电路卡。 ISO/IEC 10536识别卡 - 非接触式集成电路卡 - 紧耦合卡。 ISO/IEC 15693识别卡 - 非接触式集成电路卡 - 邻近卡。 印刷表面质量
如果需要在制造过程后通过套印定制 PICC则应注意确保用于打印的区域具有适合所使用的打印技术或打印机的足够质量。
